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供求信息 > 日本X射��光��X-tec(ED-10)|供光��|电子工具网 20090106 [Updated: 2009/01/06]
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日本X射��光��X-tec(ED-10)|供光��|电子工具网 20090106

 
���盟 EU)的 WEEE/RoHS�例,日本X-tec X射�技�研究所�造的 ED-10型�
X射��光光��,是一部可�立�查大部份基本原素 Al~U)含量,�能於100秒�
��同���出五�主要原素 Cd Pb Cr Br Hg)的成分,精�度最高可�至3ppm。
- 桌上式小型主�  W500mm x H435mm x D400mm),重量�38kg ,配�特大�
  品室  W470mm x H100mm x D300mm)。
- �� CCD �像�,可以�察及���品��部份。
- �用�子冷�方式 Peltier System),不需用液�氮,省去了液氮的消耗成本和添加�的
  安全��,故此操作及保��之容易。
- ��面����至12mm直�。
- 可��塑料或金�物料�品作��。
- �用固�、粉末或液��品,且不需破�性的前�理,直接上�,��、快捷。
- 配置了目前最先�的超�矽半����? S-SDD  Super Silicon Drift Detector),
  ��速度更快。
- �有AC220V型�,不需外加�源��器。
- ��配���中文�件之手提型��。

用途

�定有害重金� RoHS)之含量,特��合用於�子元器件�原材料的RoHS��、分析
合金成份、��原料品�抽� IQC)、出��品抽�、材料����定 - 例如�成分
析,�金�回收等。

使用�象

�用於�子、�力、��、食品、�料、化?品、�料、染料、石化、金�、�械�品
等多�行�。

使用效果

-
 
Spec X射��光光��
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Price 议定
Package 按订单
Valid Until 2010/01/06


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